Prodotti

● Caratterizzazione in loco delle macchie

Spettrometri e analizzatori di fascio

• copertura di lunghezza d'onda da 10 a 80 nm

• Integrazione rapida e semplice

● Dispositivo multifunzione compatto

Per il campionamento in situ periodico dei raggi XUV, nanoLIGHT è uno strumento completo per la caratterizzazione. nanoLIGHT unisce le funzionalità dello spettrometro XUV e dell'analizzatore del fascio XUV per recuperare completamente il bypass del fascio. È possibile passare rapidamente e automaticamente tra le diverse modalità di lavoro.

Grazie alla sua struttura compatta di 16 x 17 cm², nanoLIGHT è la soluzione perfetta per la trasformazione in ambienti sperimentali ridotti.

Il nanoLIGHT registra contemporaneamente una gamma estremamente ampia di lunghezze d'onda da 10 a 80 nm e la sua unità di inserimento del filtro consente la selezione e la taratura con filtri metallici.

I rilevatori MCP con efficienza e sensibilità regolabili fino al 20% dello spettro intero consentono allo spettrometro di avere un'ampia gamma dinamica.

Le versioni personalizzate della cavità nanoLIGHT sono disponibili!

　　Parametri tecnici:

Efficienza del raster:

Applicazioni

Fonte armonica alta

Scienza dei secondi

Forte interazione laser e materia

Laser elettronico libero